In dieser Monographie werden Verfahren zur modularen Testerzeugung f�r Schaltnetze entwickelt. Ausgehend von einer Beschreibung der modularen Schaltung und den Tests f�r die einzelnen Module bestimmen diese Verfahren den Test f�r die modulare Schaltung. Die Arbeit geht in diesem Zusammenhang auch auf den pr�fgerechten Entwurf modularer Schaltungen ein. In Analogie zum klassischen sensibilisierten Pfad, der 1 Bit Testinformation weiterleiten kann, wird der Pfadbegriff auf die parallele Weiterleitung von k Bit ...
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In dieser Monographie werden Verfahren zur modularen Testerzeugung f�r Schaltnetze entwickelt. Ausgehend von einer Beschreibung der modularen Schaltung und den Tests f�r die einzelnen Module bestimmen diese Verfahren den Test f�r die modulare Schaltung. Die Arbeit geht in diesem Zusammenhang auch auf den pr�fgerechten Entwurf modularer Schaltungen ein. In Analogie zum klassischen sensibilisierten Pfad, der 1 Bit Testinformation weiterleiten kann, wird der Pfadbegriff auf die parallele Weiterleitung von k Bit Testinformation verallgemeinert. Die Arbeit formalisiert dazu mehrere Klassen von partiell injektiven Pfadfunktionen; daraus werden Kriterien f�r die Mindesteigenschaften von pfadbildenden Modulen und Algorithmen zum Bilden solcher k-Bit-Pfade abgeleitet. Ziel des Buches ist es, Modultests, die mit speziellen Fehlermodellen und Verfahren in hoher Qualit�t erzeugbar sind, auch in umfangreichen, modularen Schaltungen anzuwenden. Das Buch liefert daf�r die theoretischen Grundlagen und die wesentlichen Algorithmen, die in einer Teilimplementierung auch erprobt wurden.
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